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美國(guó)Cohu半導(dǎo)體測(cè)試處理器介紹

發(fā)布時(shí)間: 2024-07-02  點(diǎn)擊次數(shù): 299次

Cohu是半導(dǎo)體測(cè)試處理器和接觸器的供應(yīng)商,也是自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備、檢測(cè)和計(jì)量解決方案以及數(shù)據(jù)分析軟件的不斷發(fā)展的供應(yīng)商,以?xún)?yōu)化半導(dǎo)體制造良率和生產(chǎn)力。

一家擁有完整測(cè)試單元和檢測(cè)專(zhuān)業(yè)知識(shí)的公司。我們能夠利用我們?cè)谒挟a(chǎn)品組中的專(zhuān)業(yè)知識(shí)來(lái)創(chuàng)建集成的測(cè)試單元解決方案,使我們能夠?yàn)榭蛻籼峁┙昏€匙、低風(fēng)險(xiǎn)的測(cè)試解決方案,幫助他們實(shí)現(xiàn)大批量生產(chǎn)。


我們與客戶密切合作,并利用 Cohu 產(chǎn)品團(tuán)隊(duì)的跨職能專(zhuān)業(yè)知識(shí);半導(dǎo)體 ATE、測(cè)試處理程序和接口解決方案。


Cohu 在我們的設(shè)施內(nèi)提供全面的預(yù)驗(yàn)證服務(wù),以確保最大限度地減少客戶現(xiàn)場(chǎng)的啟動(dòng)時(shí)間,并在盡可能快的時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn)目標(biāo)產(chǎn)量和吞吐量。


Cohu 已向亞洲、歐洲和北美的 IDM 和 OSAT 交付了多個(gè)完整的測(cè)試單元,以滿足下一代設(shè)備測(cè)試要求并補(bǔ)充現(xiàn)有產(chǎn)能。


在測(cè)試、處理和接口解決方案方面擁有的汽車(chē)市場(chǎng)經(jīng)驗(yàn)。Cohu 在測(cè)試具有主動(dòng)熱控制、傳感器、遠(yuǎn)程信息處理和支持傳動(dòng)系統(tǒng)電氣化的設(shè)備的 ADAS 處理器方面處于地位。


Cohu 經(jīng)過(guò)生產(chǎn)驗(yàn)證的測(cè)試單元解決方案能夠滿足高電壓和高電流要求,以提升裸片碳化硅 (SiC) MOSFET 和肖特基二極管以及氮化鎵高電子遷移率晶體管 (GaN HEMT) 汽車(chē)和工業(yè)設(shè)備的功率。正在申請(qǐng)的 Volta 通量高功率密度解決方案可實(shí)現(xiàn)相同的接觸元件,用于單功率已知良好芯片 (KGD) 和晶圓探測(cè),可現(xiàn)場(chǎng)更換的 MEMS 探頭可顯著降低測(cè)試成本。


Cohu是半導(dǎo)體測(cè)試處理器和接觸器的供應(yīng)商,也是自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備、檢測(cè)和計(jì)量解決方案以及數(shù)據(jù)分析軟件的不斷發(fā)展的供應(yīng)商,以?xún)?yōu)化半導(dǎo)體制造良率和生產(chǎn)力。



測(cè)試處理程序

用于自動(dòng)化半導(dǎo)體器件移動(dòng)、在測(cè)試過(guò)程中控制溫度和提供視覺(jué)檢測(cè)的設(shè)備組合;確保質(zhì)量并優(yōu)化批量生產(chǎn)的產(chǎn)量。



半導(dǎo)體測(cè)試儀

用于測(cè)試半導(dǎo)體器件的儀器和通用自動(dòng)測(cè)試設(shè)備 (ATE) 平臺(tái)組合,在射頻、數(shù)字和混合信號(hào)應(yīng)用中提供的解決方案,從而加快了產(chǎn)能速度。




接口解決方案

全套測(cè)試接觸器,在測(cè)試儀和測(cè)試處理器提供的半導(dǎo)體器件之間提供電氣接口;通過(guò)一系列耗材探針優(yōu)化信號(hào)性能。



探索我們的產(chǎn)品

檢測(cè)和計(jì)量

用于提供高級(jí)質(zhì)量檢驗(yàn)的測(cè)試和后端精加工設(shè)備組合;確保質(zhì)量并優(yōu)化批量生產(chǎn)的產(chǎn)量。



Cohu 在半導(dǎo)體測(cè)試儀方面擁有 40+ 年的專(zhuān)業(yè)知識(shí),設(shè)計(jì)和制造可擴(kuò)展的自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備 (ATE),旨在測(cè)試 SOC、MCU、RF PA/FEM、傳感器/MEMS 以及電源和模擬設(shè)備。我們的儀器產(chǎn)品組合和通用自動(dòng)測(cè)試設(shè)備平臺(tái)提供的解決方案,并加快成品速度。


Diamondx Tester 風(fēng)冷通用測(cè)試平臺(tái)

Diamondx 半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)將 Cohu 的低成本、高吞吐量生產(chǎn)測(cè)試解決方案平臺(tái)擴(kuò)展到高引腳數(shù)、高站點(diǎn)數(shù)的無(wú)線、移動(dòng)性、SOC、平板顯示器驅(qū)動(dòng)器、電源管理和微控制器。Diamondx 旨在滿足 IC 公司面臨的成本驅(qū)動(dòng)因素,擴(kuò)大了 Cohu 在降低運(yùn)營(yíng)成本方面的。


Diamondx 測(cè)試系統(tǒng)在高密度數(shù)字、直流、模擬儀器以及技術(shù)的精密模擬、SerDes、射頻和汽車(chē)測(cè)試方面具有成熟的能力,適用于當(dāng)今的各種設(shè)備。


Diamondx 的通用測(cè)試平臺(tái)優(yōu)化了整個(gè)物聯(lián)網(wǎng) (IoT) 信號(hào)鏈的測(cè)試并行性,包括射頻、電源管理和微控制器設(shè)備。Diamondx 的 RedDragon 射頻儀器套件能夠測(cè)試不斷擴(kuò)展的 5G 頻率、下一代 Wi-Fi 7 和超寬帶 (UWB) 標(biāo)準(zhǔn)。結(jié)合高密度電源管理儀器,Diamondx 在適用于物聯(lián)網(wǎng)、高壓數(shù)據(jù)中心和電動(dòng)汽車(chē)的靈活平臺(tái)中提供高達(dá) 480V 的更高吞吐量測(cè)試能力。



MT9928 xm MT9928 xm 測(cè)試處理器非常成熟,安裝基礎(chǔ)>1,300 提供經(jīng)過(guò)現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)證的可靠性和性能。它的模塊化和可擴(kuò)展設(shè)計(jì)提供了從工程到大批量制造的多種選擇,允許根據(jù)測(cè)試需求配置 MT9928。


支持多種不同的封裝類(lèi)型。這也包括傳感器測(cè)試解決方案。易于訪問(wèn)的設(shè)計(jì)和易于更改的轉(zhuǎn)換套件部件支持快速輕松地更改包裝樣式。


MT9928 具有較大的浸泡容量,帶有浸泡助推器,可將浸泡時(shí)間減少多達(dá) 50%。該處理器具有整個(gè)三溫范圍,具有出色的溫度精度和穩(wěn)定性。提供各種接觸側(cè)模式,并具有免費(fèi)的接觸站點(diǎn)映射功能。


采用 Cohu 的 DI-Core 數(shù)據(jù)智能系統(tǒng),為工業(yè) 4.0/工廠自動(dòng)化提供實(shí)時(shí)設(shè)備監(jiān)控和數(shù)據(jù)分析。


Delta Eclipse

 Eclipse™ 測(cè)試處理程序?yàn)闇y(cè)試各種半導(dǎo)體(從模擬 IC 到高性能 CPU 和移動(dòng)處理器)提供了可擴(kuò)展的性能。Eclipse 是一款高速拾取和放置處理器,設(shè)計(jì)用于在 -55°C 至 +155°C* 的溫度下并行測(cè)試多達(dá) 16 個(gè)集成電路 (IC),吞吐量高達(dá) 12,000 UPH。



Eclipse 測(cè)試處理程序旨在滿足測(cè)試分包商的高混合生產(chǎn)要求,使他們能夠利用現(xiàn)有的設(shè)備套件基礎(chǔ)設(shè)施,同時(shí)利用 Cohu 的高性能散熱技術(shù)來(lái)測(cè)試中高功率處理器。采用 Cohu 專(zhuān)有的 T-Core 熱控制器和多種冷卻選項(xiàng),可為功耗 IC 提供精確的多站點(diǎn)溫度管理。通過(guò)實(shí)現(xiàn)更高的功耗,客戶可以通過(guò)使用 Cohu 的 T-Core 熱控制器來(lái)最大限度地提高產(chǎn)量。借助 T-Core,客戶可以管理從 APU 到 CPU、GPU 再到服務(wù)器和 AI 設(shè)備等挑戰(zhàn)性的散熱應(yīng)用。Eclipse還采用了NV-Core先進(jìn)的檢測(cè)和計(jì)量技術(shù)。


Eclipse XTA 配置為處理程序帶來(lái)了工廠自動(dòng)化接口,允許客戶通過(guò)使用自動(dòng)導(dǎo)引車(chē) (AGV) 或高架運(yùn)輸 (OHT) 與智能工廠進(jìn)行交互,從而提高效率。前端托盤(pán)自動(dòng)化提供了更高水平的性能和功能,以推動(dòng)銷(xiāo)售和市場(chǎng)地位。在生產(chǎn)中,XTA車(chē)隊(duì)的性能高于客戶設(shè)定的目標(biāo)。在測(cè)試 3×3 毫米設(shè)備時(shí),它擁有超過(guò) 28,000 次卡紙之間的平均循環(huán) (MCBJ)。


*設(shè)備類(lèi)型取決于


聯(lián)